学术报告：（5月19日）太赫兹扫描近场光学显微技术及其在极化激元探测中的研究

报告摘要：太赫兹光谱技术在探究材料的电子、晶格、化学分子信息等方面具有重要优势。受衍射极限限制，传统的太赫兹技术难以进行纳米尺度下成像及成谱研究，这在较大程度上限制了太赫兹成像与成谱技术的广泛应用。新兴太赫兹散射式扫描近场光学显微镜（Terahertz scattering type scanning near-field optical microscopy, THz s-SNOM）为解决此难题提供了解决方案，这主要得益于其可突破衍射极限的高空间分辨能力。本次报告中，将首先介绍THz s-SNOM相关原理、存在的问题及发展的系统。其次，分享近期利用THz s-SNOM探索拓扑绝缘体、半导体材料中极化激元光子学方面的最新研究进展，讨论拓扑绝缘体Bi2Se3中极化激元的物理本质起源、半导体Ag2Te中的各向异性等离激元波的首次实空间成像结果。 

主讲人介绍：陈舒，上海理工大学教授，上海市海外高层次人才。2016年博士毕业于厦门大学，此后5年在西班牙CIC nanoGUNE Rainer Hillenbrand教授团队从事扫描近场光学显微技术方面的研究工作，于2022年8月入职的上海理工大学光电学院太赫兹技术创新研究院。主要研究方向包括近场光学、极化激元光子学、表面增强谱学。当前致力于发展高时空分辨的太赫兹近场光学显微技术，包括原理、技术、系统研制及其应用研究，利用太赫兹光和物质的相互作用研发先进光电太赫兹功能性器件。目前发表包括Nature Mater., Nature Nanotech., Nat. Energy, Nat. Commun., J. Am. Chem. Soc., Nano Lett., ACS Nano, ACS Photonics在内的SCI论文40余篇。相关研究成果被Science, Nature Nanotech., Phys. Rev. Lett.等高水平杂志多次引用，单篇引用大于100次10余篇，多篇文章入选ESI高被引论文。